Микроскопический спектрометр толщины (серия OPTM)

ДоговариваемыйОбновление на01/02

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Микроскопический спектрометр толщины пленки (серия OPTM) использует микроспектроскопию для измерения абсолютного отражения в крошечных областях, что позволяет проводить высокоточный анализ толщины пленки / оптических констант. Толщина покрытия измеряется неразрушающими и бесконтактными способами, такими как различные мембраны, чипы, оптические материалы и многослойные мембраны.

Подробности о продукте

Микроскопический спектрометр толщины (серия OPTM)

Измеряйте альбедо * * целевой мембраны, высокоточно измеряйте толщину мембраны и оптическую константу! Бесконтактный, неразрушающий, микроскопический

Время измерения всего 1 секунда!

Серия OPTM использует микроспектроскопию для измерения отражения в крошечных областях с помощью коэффициента отражения * *, что позволяет проводить высокоточный анализ толщины пленки / оптических констант. Толщина покрытия измеряется неразрушающими и бесконтактными способами, такими как различные мембраны, чипы, оптические материалы и многослойные мембраны. Время измерения, высокоскоростные измерения, которые достигают 1 секунды / точки и оснащены программным обеспечением для анализа оптических констант даже для первых пользователей

显微分光膜厚仪（OPTM系列）

Характеристики продукта:

Голова оснащена функцией измерения толщины пленки.

Измерение высокой точности * * отражательной способности (толщина многослойной мембраны, оптическая постоянная) с помощью микроспектроскопии

1 час. 1 сек. Высокоскоростные измерения.

Оптические системы широкого спектра под микроспектром (ультрафиолетовый * * * ближний инфракрасный)

Механизмы безопасности региональных датчиков

Мастер анализа прост в анализе, и новички могут проводить анализ оптических констант

Независимые измерительные головки соответствуют различным требованиям к клиенту inline

Поддержка различных настроек

Измерения:

* * Измерение альбедо

многослойный мембранный анализ

Анализ оптических констант (n: коэффициент преломления, k: коэффициент экстинкции)

Применение:

Полупроводники: автоматическая настройка образцов кристаллической окружности, обнаружение изгиба кристаллической окружности

Оптические компоненты: определение излучаемости, изгиба и т.д. линз объектива

Микроскопический спектрометр толщины (серия OPTM)Типы продукции:

	ОПТМ-А1	ОПТМ-А2	ОПТМ-А3
Диапазон длин волн	230 ~ 800 нм	360 ~ 1100 нм	900 ~ 1600 нм
Диапазон толщины мембраны	1 нм ~ 35 мкм	7 нм ~ 49 мкм	16 нм ~ 92 мкм
Определение времени	1 секунда / 1 час
Размер пятна	10 мкм (* * около 5 мкм)
светочувствительный элемент	CCD		InGaAs
Спецификация источника света	Дейтериевая лампа + галогенная лампа		Галогенная лампа
Стандарты питания	AC100V ±10V 750VA (спецификация автоматического стенда для образцов)
размер	555 (W) × 537 (D) × 568 (H) mm (основная часть спецификации автоматического стенда для образцов)
вес	Приблизительно 55 кг (основная часть спецификации автоматического стенда для образцов)

Похожий продукт рекомендовать