Микроскоп для проверки поверхности углеродной пленки XS - 14C

ДоговариваемыйОбновление на03/04

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Микроскоп XS - 14C для проверки поверхности углеродной пленки состоит из источника света с высоким цветом отражения, окулярного объектива высокой четкости

Подробности о продукте

Обзор продукции

Микроскоп для проверки поверхности углеродной пленки XS - 14C состоит из высокояркого источника отраженного света и окулярного объектива высокой четкости. В основном используется для проверки поверхности углеродной пленки расходных материалов TEM для линз. Подборка камер и компьютеров позволяет измерять и сохранять микроскопические изображения поверхности углеродной пленки, что позволяет специалистам проводить анализ качества продукции. Микроскопическое увеличение 50X - 500X

Особенности продукции:

1. Микроскоп использует объектив высокой четкости с большим расстоянием работы, чтобы избежать загрязнения образца.

2. Использование высокояркого отраженного источника света облегчает микроскопическое распознавание следов поверхности образца.

Спецификационные параметры

Серийный номер	Наименование продукции	Параметры продукции
1	отражательный микроскопXS-14C	Увеличить:50-500X
2	Камера высокой четкостиPZ-M3GСерия (Выбрать)	310Вань-2000мегапиксель, рекомендуется600мегапиксель
3	Компьютеры марки (по выбору)	Операционная системаWin7/10Память4Gили выше
4	Сверхчистый рабочий стол (по выбору)

Похожий продукт рекомендовать