Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
Анкленте прибор (Цзянсу) лтд.
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

ybzhan> >Продукты

Анкленте прибор (Цзянсу) лтд.

  • Электронная почта

    akltyq@163.com

  • Телефон

    13347962896

  • Адрес

    улица Тунтай, округ Цзиньху, провинция Цзянсу, 286

АСвяжитесь сейчас

тетрафторторный антикоррозионный РЛС

ДоговариваемыйОбновление на01/09
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения
Обзор
Высокочастотный радиолокационный уровнемер - это радиолокационный измерительный прибор 26 ГГц.
Подробности о продукте

Высокочастотный радиолокационный уровнемер представляет собой радиолокационный измерительный прибор 26 ГГц. Используя продвинутый микропроцессор, наша компания имеет уникальные авторские права на встроенную операционную систему. Высокочастотная радиолокационная излучающая волна имеет длину и сильную способность к концентрированному проникновению энергии. Легко проникает через помехи пены, водяного пара и пыли. Оптимизированная технология обработки эхо - сигналов, технология обработки ложных эхо - сигналов, технология цифровой обработки программного обеспечения, вычисляет реальное положение вещей. Разнообразные типы антенн и технологические соединения могут применяться в различных режимах и приложениях, более уникальных приложениях с точки зрения температуры, давления и малых диэлектрических констант. В то же время интегрированы коммуникационные технологии HART, модульные модули цифрового дисплея. Сделайте продукт при применении, варианты отладки разнообразны, отладка проста.


 Принцип измерения   

Антенна РЛС - уровнемера излучает очень узкие микроволновые импульсы, которые распространяются в пространстве со скоростью света и сталкиваются с поверхностью измеренной среды, часть энергии которой отражается обратно и принимается той же антенной. Временный интервал между эмиссионными и приемными импульсами пропорционален расстоянию антенны до поверхности измеренной среды, что позволяет рассчитать расстояние между антенной и поверхностью измеренной среды.